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      低溫黑體和大面源黑體

      簡要描述:低溫黑體和大面源黑體產(chǎn)品尤其是黑體源大量的應(yīng)用于美國系統(tǒng)測試及焦平面探測器測試等領(lǐng)域。

      • 產(chǎn)品型號:
      • 廠商性質(zhì):代理商
      • 更新時間:2025-11-19
      • 訪  問  量:4248
      • 產(chǎn)品資料:

      詳細介紹

      品牌其他品牌產(chǎn)地進口
      加工定制

      低溫黑體和大面源黑體美國SBIR紅外公司成立于1986年,經(jīng)過逾20年的發(fā)展,已經(jīng)成為國際上電光測試裝備的*,所研發(fā)產(chǎn)品尤其是黑體源大量的應(yīng)用于美國紅外系統(tǒng)測試及焦平面探測器測試等領(lǐng)域。其產(chǎn)品性能主要如下:

      腔式黑體

      低溫黑體

      大面源黑體

      低溫黑體和大面源黑體

      低溫黑體和大面源黑體

      低溫黑體和大面源黑體


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